根據相對測量工具的不同,大理石平臺檢測分為指示器法和光隙法兩種。
1、指示器法:指示器法是以指示表(百分表、千分表或測微表)將被測尺寸于標準尺寸進(jìn)行比較,測出被測尺寸于標準尺寸之差的一種方法。測量時(shí)用大理石平臺工作面作為測量基面,按一定的布點(diǎn)方式,用指示表逐點(diǎn)測量并記錄讀數,然后按一定的方法評出平面度誤差值。原則上應采用小區域法評定平面度誤差,但是在實(shí)際檢測中經(jīng)常采用近似的評定方法,一種方法是在測量前,調整被測實(shí)際表面上相距遠的三點(diǎn)距大理石平臺等高,然后在被測表面上均勻劃線(xiàn)布點(diǎn)逐點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄數據,取各測點(diǎn)中的大讀數值與小讀數值之差,作為被測的平面度誤差值,此法稱(chēng)為三點(diǎn)法。另一種方法是將實(shí)際表面一個(gè)對角方向上的兩個(gè)遠點(diǎn)也調至相對大理石平臺等高,再將另外一個(gè)對角方向的兩個(gè)遠點(diǎn)也調至相對大理石平臺等高,然后在被測表面上均勻劃線(xiàn)布點(diǎn)逐點(diǎn)進(jìn)行測量,取各測點(diǎn)中的大讀數值與小讀數值之差作為被測表面的平面度誤差,此法稱(chēng)為對角線(xiàn)法。
對角線(xiàn)法和三點(diǎn)法都不符合小條件,所以評定出的誤差值均大于按小區域法評定出的誤差值,但是,由于這兩種方法檢測方便且經(jīng)濟實(shí)用,所以仍被實(shí)際測量所采用,如發(fā)生爭議,應以小區域法評定的結果作為仲裁依據。
2、光隙法:光隙法則是用刀口尺、大理石平臺等將被測量于標準量差值表征為光隙大小的。這種方法是把被測零件放在大理石平臺上,使被測面與大理石平臺工作面接觸,輕微手動(dòng)零件一下,使零件穩定地不受外力的影響*靠自重與大理石平臺接觸,用塞尺測零件四周,測得的大間隙就是被測零件的平面度誤差近似值。本辦法簡(jiǎn)單、實(shí)用,特別適合于在生產(chǎn)現場(chǎng)對中小型蓋、板類(lèi)零件平面度誤差的檢測。
電話(huà)
微信掃一掃